彩电行管损坏的原因

彩电行输出管损坏的10种原因
一行频过低：行输出管集电极电流与行频关系密切，当行频低时，行输出管饱和和导通时间长，电流大，如果持续时间长，就容易烧行输出管。造成行频过低的原因有：
1：行RC定时电路故障。
2：行频电位器及所涉及电路元件。
3：行AFC电路。
4：分频式行扫描电路中分频晶体假焊及性能不良。
5：上世纪90年代，部份厂家曾对分频晶体打黑胶固定。在潮湿的环境中，可能因黑胶漏电影响行工件而损坏行输出管。
6：部份分频晶体在工作时，用万能表测其引脚可能损坏行管，如TA8756所用的分频晶体503KHz。
7：HVCC供电电阻假焊致行工作异常可能损坏行输出管。
2：行激励不足 此时行输出管工作在非饱和状态，进入三极管放大区，管压降增大，行输出损耗功率增大，行管温升过高易损坏。其原因有以下几点。
1：行激励级假焊（有接触电阻值）如行推动变压器假焊等。
2：行推动级供电滤波电容失效，如康佳T2988彩电中C416(10微法/160V）干涸失容。
3：行激励输出被旁路分流，比如康佳有自由听功能的A型机，其自由听控制电路在正常收看时应该截止，若因其某种原因工作于放大状态，分流行激励输出，将有可能烧管输出管。
三：电容失容或者容量变少，这时行输出管集电极脉冲电压大幅上升。容易损坏行管
四：行输出变压器高压包短路，这时行管的集电极电流大增，行管和变压器发热，殃及行管致其击穿。
五：行偏转短路 此时行管集电极电流陡增而烧坏。
六：+B供电电压升高，因为行管集电极脉冲电压应该是+B的7.8倍，一但+B上升，脉冲电压将大幅攀升，行管发热。
七：行输出管本身质量不好，如早期生产的康佳T2573S机，使用J6810极易损坏。
八：TDA8362芯片，RF AGC电位器地脚开路 这会使致RF AGC脚电压升高，电流增大，开机即损坏行管。不知道其故障是不是改变了行工作频率损坏行管，还是有另的原因？尚在考证。
九：行管CB结之间的外接中和电容接错，此电容一般为几百PF，若被人误接成大容量电容，行管交发热损坏。
十：总线机行频偏移，许多总线机彩电的行频通过CPU工作时钟分频获得，CPU晶体不良或者总线时钟被破坏致行管频偏移而损坏行管。如康佳带丽音S型机，使用超级芯片VCT（3）。丽音晶体18.432MHz不良，可能损坏行输出管。

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